La preparazione è un fattore cruciale per poter ottenere il massimo delle informazioni dai campioni analizzati. Il JEOL Cross Section Polisher permette di ottenere sezioni prive di artefatti e distorsioni di campioni duri, morbidi o compositi.

Microscopi Elettronici a Scansione (SEM)
Strumento ormai imprescindibile per l’analisi dei nuovi materiali, per il controllo qualità, per l’analisi dell’amianto e molto altro, JEOL (ITALIA) S.p.A. è in grado di fornire il