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Il JEOL JSM-IT510, quarta generazione di JEOL InTouchScope SEM, offre il più alto livello di tecnologia con intelligenza artificiale (AI) e un’automazione completamente integrata così da renderlo il SEM termoionico analitico più performante e versatile disponibile oggi sul mercato.
Con questa nuova generazione di SEM JEOL è possibile osservare qualsiasi campione in pochi secondi permettendo di ottenere molteplici informazioni. La telecamera a colori integrata offre una navigazione ottica sul campione mentre, la funzione Zeromag, fornisce dettagli in scala nanometrica correlando l’immagine SEM con quella ottica. Contestualmente a ciò, l’analisi EDS in tempo reale identifica immediatamente la presenza degli elementi chimici di interesse. Inoltre, le molteplici funzioni automatiche (AF, AS, ACB, ecc.) che lo equipaggiano garantiscono, anche agli utenti meno esperti, la veloce acquisizione di immagini risolute e dettagliate, determinando una produttività di quattro volte superiore ai SEM standard:
Campione: Particelle di TiO2.
Tensione di Accelerazione: 10 kV, Segnale SE, Mag. 30.000X.
La funzione Montage permette di analizzare su vaste aree del campione anche i più piccoli dettagli della sua superficie, pur lavorando ad elevati ingrandimenti.
Con il JSM-IT510, JEOL ha raggiunto un livello di automazione ineguagliabile grazie alla funzione integrata Simple SEM. Questa modalità consente l’acquisizione automatizzata e personalizzata di immagini che semplifica enormemente il flusso di lavoro durante le quotidiane analisi SEM.
La funzione Signal Depth ha portato la comprensione della risoluzione spaziale EDS ad un livello senza precedenti, rendendo il JSM-IT510 un eccellente strumento sia per l’imaging che per l’analitica.
Scegli la configurazione più adatta alle tue esigenze: grazie alla modalità di lavoro in basso vuoto ed una camera di grandi dimensioni, è possibile equipaggiare il JEOL JSM-IT510 con un’ampia gamma di accessori e rivelatori per tecniche analitiche quali EDS (singolo o multiplo), WDS, EBSD, CL, STEM, stage riscaldanti/raffreddanti/tensili, ecc…
La configurazione analitica (JSM-IT510LA) include il nuovo sistema EDS JEOL completamente integrato che consente di eseguire spettri e mappature EDS in tempo reale:
Nel JEOL JSM-IT510 è possibile installare una serie di accessori, sia hardware che software, che consentono agli utilizzatori più esigenti di personalizzare questo SEM sulla base delle proprie, specifiche, esigenze:
Rivelatore per elettroni secondari in basso vuoto ibrido (LHSED):
Questo nuovo rivelatore raccoglie informazioni derivanti dagli elettroni e/o dai fotoni fornendo immagini caratterizzate da un elevato rapporto S/N e consentendo di ottenere informazioni topografiche migliori e più dettagliate.
Campione: Intonaco.
Tensione di Accelerazione: 7 kV, Segnale LV SE, Mag. 10.000X.
Analisi automatica chimico-morfologica delle particelle o inclusioni (JEOL PA):
Il nuovo software JEOL Particle Analysis permette l’individuazione, l’analisi e la classificazione di qualsiasi tipologia di particella o inclusione in modo completamente automatizzato.
Sfruttando la sua piattaforma SEM-EDS completamente integrata, JEOL ha spinto l’intero processo di classificazione statistica chimico-morfologico delle particelle ad un livello di precisione, accuratezza e velocità mai visto prima.
Specifiche librerie di classificazione rendono i report finali conformi a diversi standard internazionali: ISO, DIN, ASTM, etc.
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