CRYO ARM™ 300 II

CRYO ARM™ 300 II è un microscopio elettronico a trasmissione basato sull’Atomic Resolution Microscope platform (ARM), dedicato all’osservazione di campioni sensibili al fascio elettronico, in condizioni criogeniche, come proteine per analisi in singola particella (SPA), tomografia 3D e MicroED.

Questo TEM offre stabilità, produttività, facilità d’uso e affidabilità migliorate rispetto alla generazione precedente di cryo-EM.

Inoltre, si tratta di un sistema all-in-one, in grado di gestire qualsiasi necessità: dallo screening all’acquisizione di dati in alta risoluzione, in completa automazione, consentendo una maggiore flessibilità operativa.

Caratteristiche peculiari

Nuovo Cold Field Emission Gun (CFEG)

Il CRYO ARM™ 300 II è equipaggiato con la rinnovata sorgente ad emissione di campo di tipo Cold (CFEG) che fornisce un dimezzato energy spread rispetto alle normali sorgenti Schottky disponibili sul mercato. Questo determina un migliore contrasto e permette di accedere a risoluzioni atomiche nella ricostruzione delle strutture con maggiore facilità.

Nuovo Omega Filter

Il CRYO ARM™ 300 II è dotato del nuovo e migliorato in-column energy filter, Omega filter, il cui settaggio è integrato nell’interfaccia grafica del TEM e completamente automatico al fine di ottenere costantemente le migliori prestazioni e la massima stabilità.

Rivoluzionario contamination-free autoloader

Grazie al suo particolare design e ad un efficiente sistema di pompaggio il sistema di auto-caricamento consente di conservare i campioni per svariate settimane senza rischio di contaminazione. In aggiunta anche singole griglie portacampione possono essere sostituite.

Zero-Fringe System

Il CRYO ARM™ 300 II oltre al normale sistema di illuminazione presenta l’unico “Koehler mode illumination” che aumenta esponenzialmente il numero di immagini ottenibili a parità di area del campione, determinando un incredibile aumento della produttività.  

Elevata produttività

Il CRYO ARM™ 300 II raggiunge una impareggiabile velocità di acquisizione dei dati combinando beam-shift con una precisa movimentazione dello stage. L’eccellente controllo del fascio elettronico in questo TEM minimizza il coma-aberration, esaltando la qualità delle immagini ottenibili e quindi la produttività di questo strumento.