Il JEM-2100Plus ha tre lenti condensatrici indipendenti ed il sistema brevettato JEOL Alpha Selector™ consente all’utente la scelta di una varietà di condizioni di illuminazione, dalla modalità di fascio convergente all’illuminazione parallela permettendo così di migliorare le capacità di analisi e diffrazione. Grazie alla sua seconda lente obiettivo, la microscopia Lorentz è una caratteristica standard di questo microscopio. Un diaframma ad alto contrasto, rimovibile dalla lente obiettivo, equipaggia ciascuno dei cinque diversi modelli di pezzo polare, ciascuno ottimizzato in base alle applicazioni che l’utente vuole eseguire (alta risoluzione, alto contrasto, Cryo, Tomografia, ecc.). Una volta introdotto, offre un eccellente contrasto.
Per completare le capacità analitiche del JEM-2100Plus, un diaframma di risoluzione dei raggi X spuri è posizionato appena sopra la lente dell’obiettivo così da limitare la presenza di picchi “contaminanti” durante le analisi EDS.