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Il JEM-1400Flash è un microscopio elettronico a trasmissione compatto, ad alte prestazioni e molto semplice da utilizzare.
Le sue immagini combinano alta risoluzione ed eccellente contrasto in un’unico strumento. Il JEM-1400Flash è un dispositivo versatile che consente l’approccio a differenti tipologie di analisi quali la cryo-microscopia, la tomografia 3D, l’analisi chimica, ecc. Grazie alla sua ampissima diffusione questo TEM rappresenta lo strumento di riferimento per le scienze della vita, l’analisi dei polimeri e dei materiali e la diagnostica patologica.
Per questa nuova generazione di TEM a 120kV, JEOL ha prestato particolare attenzione alla facilità ed al comfort di utilizzo ottimizzando sia la parte hardware che quella software:
La nuova fotocamera sCMOS Matataki Flash combina velocità di acquisizione molto elevate (30 immagini al secondo alla massima risoluzione), alta sensibilità e molteplici funzioni automatiche, permettendo l’acquisizioni di immagini TEM in modo estremamente facile e veloce.
La nuova funzione software “Limit-less Panorama (LLP)” inclusa nel JEM-1400Flash offre la possibilità di eseguire un montaggio automatico, senza limiti, di immagini ottenute sfruttando la movimentazione dello stage. L’immagine risultante può così essere utilizzata per navigare rapidamente sull’intera griglia portacampione permettendo la facile identificazione delle aree di maggiore interesse.
Grazie a “Picture Overlay”, la microscopia correlativa (CLEM) non è mai stata così facile. Picture Overlay permette di sovrapporre in tempo reale all’immagine TEM l’immagine ottica a fluorescenza del medesimo campione consentendo l’analisi a maggiore risoluzione di aree marcate in fluorescenza.
L’ergonomia del microscopio è stata migliorata: lo spazio di lavoro è stato ottimizzato, i pannelli di controllo sono stati semplificati e sono completamente personalizzabili, è stata completamente rivista l’interfaccia grafica (GUI). Il JEM-1400Flash può integrare anche uno STEM digitale opzionale.
Quest’ultimo consentirà di ottenere immagini HAADF e in campo chiaro (BF) che forniranno ulteriori informazioni sia nella tomografia che nell’osservazione convenzionale. L’accoppiamento con il sistema EDS, JEOL o fornito da terze parti, permetterà un’analisi della distribuzione chimica degli elementi che costituiscono il campione.
La possibilità di utilizzare portacampioni ad alto angolo di tilt* in combinazione con specifici software proprietari (TEMOGRAPHY*) o no (Serial EM) permette l’analisi in tomografia 3D sui campioni analizzati.
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