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Il microscopio elettronico a scansione da Banco JEOL JCM-7000 è di immediato e facile utilizzo grazie all’innovativo sistema di navigazione a colori (SNS) sul campione ed entrambi i rivelatori di elettroni secondari (SED) per informazioni topografiche e di elettroni retrodiffusi (BED) per informazioni composizionali. La presenza della microanalisi EDS JEOL integrata, esattamente come avviene sui SEM JEOL più performanti, consente di eseguire analisi EDS live in tempo reale (esclusiva JEOL) permettendo così di osservare la composizione chimica esattamente nello stesso momento in cui si osserva il campione.
Tra tutti i SEM da Banco, Il JEOL JCM-7000 presenta tre funzioni uniche ed innovative:
Mentre nei SEM convenzionali le operazioni di imaging e di analisi EDS rimangono separate, nel SEM JEOL JCM-7000, grazie alla funzione ZEROMAG, queste non solo vengono gestite contemporaneamente ma sono anche correlate alla microanalisi EDS JEOL istantanea.
Analisi dei contaminanti
Presenza di corpi estranei e impurità facile da rilevare.
Facilità e immediatezza nell’individuare la composizione chimica degli elementi costituenti il campione analizzato.
Esempio: analisi di un corpo estraneo (nero) presente sulla superficie di un prodotto alimentare:
L’immagine ottica mostra una polvere nera sulla superficie del campione.
La stessa area analizzata con il rilevatore di elettroni retrodiffusi (BED) del SEM mostra un contrasto diverso rispetto alla matrice sottostante indicando composizioni diverse (in chiaro gli elementi con alto peso atomico mentre le parti più scure indicano elementi a basso peso atomico).
L’ampliamento dell’area di osservazione permette di ottenere un’analisi chimica EDS istantanea con immediata identificazione degli elementi presenti.
Rispetto alla microscopia ottica, Il vantaggio della microscopia elettronica è quella di consentire l’osservazione di dettagliate strutture superficiali in alta risoluzione e con grande profondità di campo.
Esempio: analisi di un corpo estraneo sulla superficie di un prodotto alimentare.
È impossibile vedere la presenza della sostanza estranea sulla superficie del granulo.
La profondità di campo decisamente superiore rispetto a quella del microscopio ottico insieme alle informazioni composizionali ottenute con il rivelatore di elettroni retrodiffusi (BED) mostrano chiaramente la presenza e la distribuzione della sostanza estranea sulla superficie del granulo.
Lo stato di adesione e la distribuzione micrometrica della sostanza estranea possono essere osservati con maggior dettaglio.
ZEROMAG
Consente all’aumentare dell’ingrandimento, di passare automaticamente e in maniera continua dall’immagine ottica all’immagine SEM eseguendo anche una correlazione ottico-elettronica tra le due.
Modalità a basso vuoto
Consente l’osservazione di campioni poco o non conduttivi come campioni biologici, polimeri, ceramici, ecc. senza necessità di preparare il campione.
Campione: sale
JEOL ha rivoluzionato il concetto delle analisi EDS tramite SEM. Entrambe le operazioni, ossia l’osservazione in modalità SEM e la microanalisi EDS, non vengono più eseguite separatamente ma è ora possibile controllare e monitorare in tempo reale la distribuzione chimica degli elementi nell’area osservata:
Il nuovo rivelatore multisettore di elettroni retrodiffusi JEOL ad alta sensibilità consente l’osservazione simultanea dell’immagine SEM e della sua corrispettiva immagine 3D. Per campioni con topografie complesse la possibilità quindi di eseguire ricostruzioni 3D morfologiche e superficiali in tempo reale ottenendo precise indicazioni profilometriche e di rugosità permette di raccogliere molte e più dettagliate informazioni.
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