Inserimento porta campioni con caricamento automatico: trova immediatamente il punto d’interesse!
Immagini SEM di alta qualità e analisi elementari rapide e accurate per qualsiasi utente:
Grazie alle nuove auto-funzioni presenti ed al flusso di lavoro semplificato “Easy EPMA”, qualsiasi utente è in grado di acquisire immagini SEM di alta qualità ed eseguire analisi chimiche rapide e precise. L’analisi EDS “live” permette la visione e la distinzione degli elementi chimici presenti durante l’osservazione del campione. L’integrazione EPMA-XRF consente di impostare le condizioni di lavoro sulla base dei dati XRF importati. Il tempo di analisi risulta ulteriormente ottimizzato grazie alla completa integrazione, in un unico software di gestione, degli spettrometri WDS e EDS con la colonna SEM e la telecamera ottica:
Calibrazione altamente efficiente grazie ai 18 standard di riferimento incorporati:
La nuova funzione di calibrazione dello spettrometro riduce le fasi della taratura periodica ed elimina eventuali operazioni errate grazie all’utilizzo di 18 standard analitici di riferimento, integrati nel portacampione:
L’innovativa sorgente elettronica ad emissione di campo Schottky “In-Lens Plus” FEG (brevetto JEOL) fornisce elevate risoluzioni spaziali a basse tensioni di accelerazione permettendo l’acquisizione di immagini SEM ed analisi elementari di altissima qualità altrimenti non raggiungibili con le semplici sorgenti termoioniche:
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